为什么全球顶尖实验室与制造商选择MSP-100？

发布日期：2025-05-05      浏览次数：15

精准洞察光学特性，赋能材料研发与质控
——日本Shibuya Optical MSP-100反射率测量设备



在光学材料研发与精密制造领域，传统反射率测量设备常面临三大难题：微小样品难聚焦、曲面/超薄件测量失真、数据效率低下。日本Shibuya Optical MSP-100以"纳米级精度+工业级效率"重新定义行业标准，成为半导体、光电镀膜、柔性显示等行业的测量解决方案。

三大技术突破，解决行业核心痛点

1. 测量能力——"不可能"的样品也能测

• φ50μm微区定位：10倍物镜精准测量芯片焊点、Micro LED等微观结构，分辨率达1nm。

• 0.2mm超薄挑战：20物镜技术，解决柔性OLED、光学薄膜的测量变形问题。

• 曲面自适应：半反射镜消除背面杂光，镜片、曲面屏无需喷涂即可直接检测。
  ▶ 用户案例：某全球TOP3光学镀膜厂借此将曲面AR镀膜质检效率提升200%。

2. 实验室精度，产线速度

• 波段精准控制：

• ±0.02%（451-950nm核心波段）——激光光学元件的黄金标准

• ±0.2%（紫外/近红外边缘波段）——宽光谱研究的可靠保障

• 15秒极速输出：512元件PDA传感器+高速数据链，比传统设备快3倍以上。

3. 科研与生产的无缝衔接

• 一键多模态分析：

• 反射率+色度Lab*+光谱比色同步完成

• 非接触薄膜测量保护珍贵研发样品

• 智能数据管理：

• 多结果同屏对比，快速识别批次差异

• Excel直接生成SPC控制图，符合ISO质量管理要求

四大行业刚需场景

行业	MSP-100的价值	竞品无法实现的优势
半导体	晶圆微区反射率映射	50μm测量不损伤电路结构
光学镀膜	曲面镜反射均匀性检测	无需背面处理，差＜0.1%
柔性显示	超薄面板全区域扫描	0.2mm厚度下仍保持数据一致性
科研机构	材料光学特性数据库建设	色度+反射率+薄膜数据三位一体输出

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为什么现在必须升级到MSP-100？

• 成本节约：减少样品预处理人工成本30%以上

• 风险控制：451-950nm波段±0.02%精度，避免激光器件批次性不良

• 未来兼容：Excel/API数据接口，无缝对接智能工厂系统

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技术参数速查
▸ 波长范围：380-1050nm
▸ 重复性：±0.02%（451-950nm）
▸ 最小测量区：φ50μm
▸ 数据输出：Excel/图形化报告

精准数据驱动品质革命——MSP-100让每一个光学特性无所遁形！